全新上照式設(shè)計(jì)，微聚焦，搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái)，無人值守、自動(dòng)檢測(cè)多樣品，且更加智能化，采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn)，自動(dòng)匹配測(cè)試。對(duì)各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測(cè)試更加高效、智能。
XTD-200是一款全自動(dòng)型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀，全新上照式設(shè)計(jì)，微聚焦，搭載可編程自動(dòng)位移平臺(tái)，無人值守、自動(dòng)檢測(cè)多樣品，且更加智能化，采用自主研發(fā)的AI影像識(shí)別功能可完成智能尋點(diǎn)，自動(dòng)匹配測(cè)試。對(duì)各超大異形件及微小密集型多點(diǎn)的測(cè)試更加高效、智能。
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